XDS MultiVial 近紅外光譜儀

XDS MultiVial 近紅外光譜儀儀器簡(jiǎn)介

基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS MultiVial 近紅外光譜儀對樣品瓶中固體的快速無(wú)損測量提供了新一代近紅外分析方案。用戶(hù)可以采用XDS MultiVial 近紅外光譜儀取代常規試驗，縮短產(chǎn)品的檢驗檢疫放行時(shí)間。無(wú)論在實(shí)驗室，還是現場(chǎng)離線(xiàn)分析都可以對樣品瓶中的樣品進(jìn)行成分分析或材料鑒別檢測。該分析 儀支持無(wú)人值守模式下的光譜采集，使操作人員能夠騰出時(shí)間準備其它樣品、分析數據等。

XDS MultiVial 近紅外光譜儀的通用樣品盤(pán)可實(shí)現瓶裝樣品的連續測量。內置的光斑可調功能，可以根據樣品瓶直徑調節樣品的照度。 樣品中心定位的卡環(huán)可用于單個(gè)樣品分析，而選配的粗顆粒分析單元則將固態(tài)樣品的分析范圍從精細粉末擴大到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒等幾乎所有的固體。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來(lái)了*的分析性能，提高了靈敏度，同時(shí)加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標的無(wú)縫轉移。 使用、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標就能完成的分析。